芯片温度测试（IC Chip Thermal Test）是半导体设计及制程阶段中的关键环节，需要评价芯片（Integrated Circuit，IC）在不同温度条件下，其性能、稳定性及可靠性的综合表现。由于芯片在运算时会产生热量，而过高的温度会影响运作效率甚至导致永久性损坏，因此进行温度测试是确保芯片质量和产品可靠性的必要步骤。

由于iPasslabs能提供客制化芯片测试载板的一站式服务，从设计、模拟、制造到性能测试（电压与温度）以及最后阶段的验证除错，在此想特别提及：其中的芯片高低温控制系统也能独立为客户提供单项服务，适用于已焊接在板上的芯片或是使用socket的芯片，并可以快速执行芯片的高低温变化，且不影响外围电路板上的设计。

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